Юрий Раков - Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
0.00(< 10)
Добавить на полку
Поделиться
Отправить

Юрий Раков - Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

Жанры: Жанр к этой книге еще не добавлен

Случайная цитата из книги

К этой книге еще не добавлены цитаты Добавить цитату

Рекомендуемый контент

Описание книги «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5»

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.

С книгой «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5» читают

Рецензии
Отзывы

Рецензии на книгу «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5»

Рецензий еще нет. Вы можете стать первым, кто напишет рецензию на книгу «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5»!

Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы оставить рецензию. Регистрация займет не более 15 секунд.

Отзывы на книгу «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5»

Отзывов еще нет. Станьте первым, кто напишет отзыв на книгу «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5»!

Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы написать отзыв. Регистрация займет не более 15 секунд.

КнигоПоиск © 2024 • 18+