![Валерий Кудрявцев - Теория тестирования логических устройств](/media/books/po/200x298/poster_200x298.png)
Валерий Кудрявцев - Теория тестирования логических устройств
Жанры: | Жанр к этой книге еще не добавлен |
---|
Случайная цитата из книги
К этой книге еще не добавлены цитаты Добавить цитатуРекомендуемый контент
Описание книги «Теория тестирования логических устройств»
Тестирование логических устройств – активно развивающееся научно-прикладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем С. В. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде. Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции k-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов. Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.
С книгой «Теория тестирования логических устройств» читают
Рецензии на книгу «Теория тестирования логических устройств»
Рецензий еще нет. Вы можете стать первым, кто напишет рецензию на книгу «Теория тестирования логических устройств»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы оставить рецензию. Регистрация займет не более 15 секунд.
Популярные списки книг
Эти книги могут быть интересны:
- Актуальные проблемы права социального обеспечения 2-е изд., испр. и доп. Учебник для вузов
- Хулиганка для Маньяка
- Katzenschwund
- Больница смерти
- Вначале была собака. Двадцать лет экспериментов
- Развитие государственной службы в Российской Федерации
- Запретный круиз
- Ставка на няня
- Anekdoten frommer Chaoten
- Once Upon A Kiss...: The Cinderella Act / Princess in the Making / Temporarily His Princess
Отзывы на книгу «Теория тестирования логических устройств»
Отзывов еще нет. Станьте первым, кто напишет отзыв на книгу «Теория тестирования логических устройств»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы написать отзыв. Регистрация займет не более 15 секунд.