![Rolf-Peter Vollertsen - Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies](/media/books/po/200x298/poster_200x298.png)
Rolf-Peter Vollertsen - Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Жанры: | Жанр к этой книге еще не добавлен |
---|
Случайная цитата из книги
К этой книге еще не добавлены цитаты Добавить цитатуРекомендуемый контент
Описание книги «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies»
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.
С книгой «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» читают
Рецензии на книгу «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies»
Рецензий еще нет. Вы можете стать первым, кто напишет рецензию на книгу «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы оставить рецензию. Регистрация займет не более 15 секунд.
Популярные списки книг
Эти книги могут быть интересны:
- Изморось. Стихи и рассказы с иллюстрациями. Картины Елены Кравченко, фото Валерии Панасюк
- Народные сказки
- For the Love of a Fireman
- Eiserner Wille
- Сведи меня в могилу
- Первородный грех
- Working with People at High Risk of Developing Psychosis
- His Lover's Little Secret
- Наедине со всеми
- Мир странных историй. История 1: Упавшая звезда
Отзывы на книгу «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies»
Отзывов еще нет. Станьте первым, кто напишет отзыв на книгу «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы написать отзыв. Регистрация займет не более 15 секунд.