Регина Дикарева - Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости
Жанры: | Жанр к этой книге еще не добавлен |
---|
Случайная цитата из книги
К этой книге еще не добавлены цитаты Добавить цитатуРекомендуемый контент
Описание книги «Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости»
Дано краткое описание способа измерения времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного контакта. Измерения проводятся на образцах германия и кремния. В работе рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры захвата. Приведены краткие теоретические сведения о неравновесных процессах в полупроводниковых материалах, дано описание лабораторной установки, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных, указаны требования к отчету. В конце описания лабораторной работы приведены контрольные вопросы для самоподготовки студентов и список рекомендованной литературы.
С книгой «Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости» читают
Рецензии на книгу «Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости»
Рецензий еще нет. Вы можете стать первым, кто напишет рецензию на книгу «Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы оставить рецензию. Регистрация займет не более 15 секунд.
Популярные списки книг
Эти книги могут быть интересны:
Отзывы на книгу «Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости»
Отзывов еще нет. Станьте первым, кто напишет отзыв на книгу «Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы написать отзыв. Регистрация займет не более 15 секунд.