![Дмитрий Крутогин - Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов](/media/books/po/200x298/poster_200x298.png)
Поделиться
Отправить
Дмитрий Крутогин - Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Жанры: | Жанр к этой книге еще не добавлен |
---|
Случайная цитата из книги
К этой книге еще не добавлены цитаты Добавить цитатуРекомендуемый контент
Описание книги «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
С книгой «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» читают
Рецензии
Отзывы
Рецензии на книгу «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»
Рецензий еще нет. Вы можете стать первым, кто напишет рецензию на книгу «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы оставить рецензию. Регистрация займет не более 15 секунд.
Популярные списки книг
Эти книги могут быть интересны:
- Далекое близкое
- Следующий номер
- Образ магии от Каннингема
- Ned in the Block-House: A Tale of Early Days in the West
- Психотерапия и метафорические карты
- Возвращение чемпионов
- The Philanderer's Wife
- Ныне же будешь со мною в раю
- Otto nimmt Abschied
- Путешествие по внутренним мирам сознания. За пределами земной жизни
Отзывы на книгу «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»
Отзывов еще нет. Станьте первым, кто напишет отзыв на книгу «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы написать отзыв. Регистрация займет не более 15 секунд.