Abdelkhalak El Hami - Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Жанры: | Жанр к этой книге еще не добавлен |
---|
Случайная цитата из книги
К этой книге еще не добавлены цитаты Добавить цитатуРекомендуемый контент
Описание книги «Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light»
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
С книгой «Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light» читают
Рецензии на книгу «Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light»
Рецензий еще нет. Вы можете стать первым, кто напишет рецензию на книгу «Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы оставить рецензию. Регистрация займет не более 15 секунд.
Популярные списки книг
Эти книги могут быть интересны:
- Аццкий Нуб
- Бублики в гуляше, или Повесть о том, как Оля и Слава в Будапеште дом покупали
- Urology at a Glance
- Хобгоблин
- Особенности формирования бухгалтерской отчетности сельско-хозяйственной организации к МСФО
- Toxic: The addictive new crime thriller from the best selling author that will have you gripped in 2018
- Резчик. Том1
- Царские дети и их наставники
- Aphrodite Schatzsucherin
- Менталист. Коронация. Том 2
Отзывы на книгу «Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light»
Отзывов еще нет. Станьте первым, кто напишет отзыв на книгу «Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light»!
Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите, чтобы написать отзыв. Регистрация займет не более 15 секунд.